高分辨透射電子顯微鏡

產品型號: JEM-2100
生產廠家:日本電子株式會社

儀器主要特點:
一、儀器主要配制
1.美國GATAN 832 CCD相機
2．OXFORD INCA x射線能量色散譜儀
3．單傾樣品臺,雙傾樣品臺,鈹雙傾臺

二、儀器主要特點
1.大加速電壓: 200 KV
2.放大倍數(shù): X50～1500,000
3.點分辨率: 0.23 nm
4.線分辨率: 0.14 nm
5.樣品大傾斜角度：±35o
6.能譜能量分辨率：136 ev
7.元素檢測范圍：B～U元素
儀器主要用途：
JEOL JEM-2100 透射電子顯微鏡可同時進行材料晶體結構的電子衍射分析與高分辨像分析，兼具分析微相，觀察圖像，測定成分和鑒定結構等多種功能；配合能譜分析可以實現(xiàn)元素的 X 射線、面分析；在成像系統(tǒng)方面 可以直接拍攝電子衍射圖像，并通過相應軟件對衍射花樣進行標注、分析，可完全取代傳統(tǒng)的底片拍攝，能方便的直接觀察、研究材料的內部的相組成和分布，以及晶體中位錯、層錯晶界、空位等缺陷，是研究材料微觀組織有力的工具之一。廣泛應用于納米材料、催化劑、高分子材料、金屬材料、半導體材料、地質礦物、生物醫(yī)學等方面。

面向學科：
其應用領域涉及到材料、化學、化工、環(huán)境、凝聚態(tài)物理、生物、電子、醫(yī)藥等諸多學科。